Título | The effects of extreme responding and individualism on measurement equivalence. |
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Autores | Morren, Meike , Padilla, José Luis , BENÍTEZ BAENA, ISABEL, GÓMEZ GÓMEZ, IRENE, Hernández, Ana María |
Publicación externa | No |
Medio | 10th International Test Commission (ITC) Conference |
Alcance | Ponencia del Congreso |
Evento | 10th International Test Commission (ITC) Conference |
Fecha de inicio | 01/07/2016 |
Fecha de finalización | 04/07/2016 |
Miembros de la Universidad Loyola |
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