Título The effects of extreme responding and individualism on measurement equivalence.
Autores Morren, Meike , Padilla, José Luis , BENÍTEZ BAENA, ISABEL, GÓMEZ GÓMEZ, IRENE, Hernández, Ana María
Publicación externa Si
Medio 10th International Test Commission (ITC) Conference
Alcance Ponencia del Congreso
Ámbito Internacional
Evento 10th International Test Commission (ITC) Conference
Fecha de inicio 01/07/2016
Fecha de finalización 04/07/2016
Miembros de la Universidad Loyola

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