| Título | The effects of extreme responding and individualism on measurement equivalence. |
|---|---|
| Autores | Morren, Meike , Padilla, José Luis , BENÍTEZ BAENA, ISABEL, GÓMEZ GÓMEZ, IRENE, Hernández, Ana María |
| Publicación externa | No |
| Medio | 10th International Test Commission (ITC) Conference |
| Alcance | Ponencia del Congreso |
| Evento | 10th International Test Commission (ITC) Conference |
| Fecha de inicio | 01/07/2016 |
| Fecha de finalización | 04/07/2016 |
| Miembros de la Universidad Loyola |
|
Gestionar cookies